La microscopie électronique à balayage (SEM) est une technique puissante utilisée pour examiner la structure de surface des échantillons à des grossissements très élevés. Contrairement à la microscopie optique traditionnelle, qui utilise de la lumière, le SEM utilise un faisceau d’électrons focalisé pour interagir avec la surface de l’échantillon. Cette interaction produit divers signaux, notamment des électrons secondaires, des électrons rétrodiffusés et des rayons X, qui sont ensuite utilisés pour créer des images détaillées et à haute résolution.
Quelques caractéristiques clés du SEM incluent :
- Résolution : Le SEM fournit des images avec des résolutions bien supérieures à celles des microscopes optiques, atteignant souvent des grossissements allant jusqu’à 1 000 000x.
- Détail de la surface : Il excelle dans l’imagerie de la topographie de surface des matériaux, montrant de fins détails de texture et de composition.
- Analyse élémentaire : Le SEM peut être couplé avec des techniques telles que la spectroscopie de rayons X dispersée en énergie (EDS) pour analyser la composition élémentaire de l’échantillon.
Le SEM est utilisé dans une grande variété de domaines, tels que les sciences des matériaux, la biologie, la nanotechnologie et la géologie, en raison de sa polyvalence et de ses capacités d’imagerie à haute résolution.
